高性能

在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來高納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精準成像和測量樣品的特征。此外，Park的True Non-Contact?模式還能為您帶來很好的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

滿足當前和未來需求

在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)很全的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上開放性的設計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。

易于使用和高生產(chǎn)率

Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。

經(jīng)濟實惠超越了系統(tǒng)成本

Park XE7中所搭載的True Non-Contact?模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖.端，并且它配有業(yè)內(nèi)很多的掃描模式，兼容性優(yōu)良，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。Park XE7配有Park Systems的所有的技術(shù)，XE7在細節(jié)的設計上也相當用心。

技術(shù)參數(shù)

XY掃描器

閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。

掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選  100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )

Z掃描器

柔性引導高力度掃描器

掃描范圍: 12 μm (可選 25 μm)

樣品臺

XY臺工作范圍: 13 × 13 mm

Z臺工作范圍: 29.5 mm

聚焦臺工作范圍: 70 mm

光學系統(tǒng)

可觀察樣品和探針的直視同軸光學系統(tǒng)

10X 物鏡 (可選20X）

視場: 480 × 360 μm 

CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）

電路系統(tǒng)

高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS

*大圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個數(shù)據(jù)圖像

 信號輸入：在500kHz取樣時, 16位ADC的20個通道

 信號輸出：在500kHz取樣時, 16位ADC的21個通道

 同步信號：圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號

 主動Q控制(選配)

 懸臂梁彈性常數(shù)校準(選配)

 CE Compliant

 電源 : 120 W

 信號處理模塊 (選配)

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