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產(chǎn)品分類品牌分類
元素分析儀
原子力顯微鏡AFM
力學(xué)測試設(shè)備
熱分析儀器
光學(xué)檢測設(shè)備
密度儀
水分儀、PH/電導(dǎo)率儀
色彩管理和檢測設(shè)備
天平
粘度和流變
橡塑行業(yè)專用測試設(shè)備
包材檢測設(shè)備
恒溫水浴系列
環(huán)境類檢測設(shè)備
樣品制備和加工系列
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粘度/示差檢測器 產(chǎn)品型號: BI-2010/2020
儀器簡介: BI-2010粘度檢測器采用毛細(xì)管全橋式設(shè)計,具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測量時間等特點(diǎn),其溫控可從室溫達(dá)到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,對樣品進(jìn)行同樣校正,從而得到真實分子量和結(jié)構(gòu)信息。特征粘度的檢測結(jié)合Mark-Houwink曲線,得到分子機(jī)構(gòu)如枝接密度,...
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示差折射儀 產(chǎn)品型號:BI-DNDC
儀器簡介: BI-DNDC示差折射儀按測量方式區(qū)分:在靜態(tài)方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器(2~2.5mL)直接進(jìn)樣,樣品溶液濃度范圍0.1~10mg/mL。在動態(tài)方式下作為凝膠色譜系統(tǒng)的在線示差檢測器。采用進(jìn)樣閥進(jìn)樣,由蠕動泵或HPLC泵驅(qū)動。
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圓盤式離心/沉降粒度儀 產(chǎn)品型號:BI-DCP/BI-XDC
儀器簡介: BI-DCP/ BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,通過高精度的數(shù)字式電機(jī)控制,是具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率非常高的測量儀器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。
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廣角動靜態(tài)激光光散射儀 產(chǎn)品型號:BI-200SM
儀器簡介: 廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器,通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況,通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第.二維里系數(shù)。經(jīng)國內(nèi)外眾多實驗室使用,證明BI-200SM是研究聚合物、膠...
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亞微米/納米激光粒度儀 產(chǎn)品型號:BI-90Plus
儀器簡介: 90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態(tài)光散射原理,是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。 動態(tài)光散射原理: 由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動,使得光強(qiáng)隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號,可以得到顆粒運(yùn)動的擴(kuò)散信息后,進(jìn)而利用Stokes-Ei...
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納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 產(chǎn)品型號:90Plus PALS
儀器簡介:90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準(zhǔn)測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù),比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍。
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納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 產(chǎn)品型號:Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
儀器簡介:Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個散射角度,硬件PALS技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準(zhǔn)測量,是功能強(qiáng)...
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主營產(chǎn)品:

Chatillon測力計,納米激光粒度儀,摩擦磨損試驗機(jī),自動熔點(diǎn)儀,Park Systems原子力顯微鏡,英國邁菱Mecmesin材料試驗機(jī),聚合物測試和樣品制備系統(tǒng),密度儀,折光儀,旋光儀,卡爾費(fèi)休水分儀,包材檢測用熱封儀,Julabo恒溫水浴,愛色麗色度計,梅特勒熱分析儀


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